[1] W. Claeys, S. Dilhaire, V. Quintard and J.P. Dom, “Absolute Dynamic Measurements of Temperature Changes in Electronic Components from a Thermoreflectance Optical Test Probe”, European Test Conference, 1993.

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Bibliografia

[1] W. Claeys, S. Dilhaire, V. Quintard and J.P. Dom, “Absolute Dynamic Measurements of Temperature Changes in Electronic Components from a Thermoreflectance Optical Test Probe”, European Test Conference, 1993.

Proceedings of ETC 93, Third Volume , Issue , 19-22 Apr 1993 Page(s):

378 – 384.

[2] Pavel L. Komarov, Mihai G. Burzo, and Peter E. Raad, “Thermal Characterization Of Pulse-Activated Microelectronic Devices By Thermoreflectance-Based Surface Temperature Scanning”, ASME InterPACK '05 July 17-22, San Francisco, California, USA.

[3] Veronique Quintard, Stefan Dilhaire, Tam Phan, and Wilfrid Claeys,

“Temperature Measurements of Metal Lines Under Current Stress by High-Resolution Laser Probing”, Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement, Vol. 48, no. 1, February 1999.

[4] Stéphane Grauby, Stefan Dilhaire, Sébastien Jorez, and Wilfrid Claeys,

“Temperature Variation Mapping of a Microelectromechanical System by Thermoreflectance Imaging”, Ieee Electron Device Letters, Vol. 26, No. 2, February 2005.

[5] J. Laconte, C. Dupont, A. Akheyar, J.-P. Raskin, and D. Flandre, “Fully

CMOS compatible low-power microheater,” presented at the DTIP 2002,

Cannes-Mandelieu, France, May 6–8, 2002.

(2)

150 Bibliografia

[6] H. A. Schafft, “Thermal analysis of electromigration test structures,” IEEE Trans. Electron Devices, vol. ED-34, pp. 664–672, Mar. 1987.

[7] P. E. Bagnoli, C. Casarosa, M, Ciampi, E. Dallago, “Thermal resistance analysis by induced transient (TRAIT) method for power electronics devices thermal characterization – Part I: fundamentals and theory”, IEEE Trans. On Power Electronics, vol.13, no.6, novembre 1998, pp.1208-1219.

[8] P. E. Bagnoli, C. Casarosa, F. Stefani, “DJOSER: Analytical thermal simulator for multilayer electronic structures. Theory and numerical implementation. Proceedings of Thermal Issues in Emerging Technologies ThETA 1 Conference, vol. 1, pp. 1-8, Cairo, Egypt 2007.

[9] P. E. Bagnoli, C. Casarosa, M. Ciampi, E. Dallago, and G. Sassone,

“Applicazione dell’analisi TRAIT a strutture simulate,” in Proc. III Workshop A.S.T.E., Turin, Italy,Jan. 1995.

[10] A. Maierna, M. Bezza, P. E. Bagnoli, C. Casarosa, E. Dallago, F.

Perotti,“Experimental characterization of automotive electronic packaging by TRAIT method: Preliminary results,” in Proc. ISHM Conf., Milano, giugno 1994, pp. 209–216.

[11] P. E. Bagnoli, C. Casarosa, E. Dallago, G. Sassone, and A. Maierna,

“Thermal resistance analysis by induced transient (TRAIT) applied to power electronic device packaging,” in Proc. EPE’95 Conf., Siviglia, Settembre 1995, vol. 3, pag. 3.322–3.327.

[12] Fabio Stefani, “Analisi termiche comparative dei substrati per le

applicazioni elettroniche negli autoveicoli”. Tesi di laurea in Ingegneria

Elettronica, anno accademico 2003/2004. Università di Pisa.

(3)

151 Bibliografia

[13] Alessandro Nordio “Documento multimediale di supporto alla didattica per le comunicazioni ottiche”, Tesi di laurea svolta presso il Dipartimento di Ingegneria dell’Informazione, Facoltà di Ingegneria, Pisa. Anno accademico 1997/98.

[14] Maurizio Montesi, “Strumenti per la caratterizzazione e simulazione termica di dispositivi elettronici di potenza”, Tesi di dottorato di ricerca svolta presso il Dipartimento di Ingegneria dell’informazione. Università di Pisa. Anno 2003.

[15] S. Sedra, K Smith, “Circuiti per la Microelettronica”, Edizioni Ingegneria 2000.

[16] G. Manara, A.Monorchio, P.Nepa, “Appunti di Campi Elettromagnetici”, Servizio editoriale universitario di Pisa.

Sono stati utilizzati i seguenti data sheet:

[17] Analog Devices, Universal LVDT Signal Conditioner, AD698

[18] Hamamatsu, Si PIN photodiode, S3590 series

[19] Burr-Brown, High Speed FET-Input INSTRUMENTATION AMPLIFIER

[20] Infineon, Cool MOS Power Transistor

[21] Roithner Lasertechnik, Multi-Quantum Well (MQW) Laser Diode.

Model:ELD85NPT50.

(4)

152 Bibliografia

Sono stati consultati i seguenti siti internet:

[22] Y. Sungtaek Ju, Kenneth E. Goodson, “Microscale heat conduction in integrated circuits and their constituent fims”.

http://books.google.com/books?id=xGjWJhSULywC&pg=PA21&lpg=PA 21&dq=thermoreflectance+coefficient+aluminium&source=web&ots=xhx T8roDtM&sig=bFLP4OzLwkCapUWiIVA9wjM2Nlc#PPP1,M1

[23] http://www.microst.it

[24] http://it.wikibooks.org/wiki/Fisica_classica/Polarizzazione

[25] "Diodo Laser". Wikipedia, L'enciclopedia libera. 24 gennaio 2008, 12:54

UTC. 5 febbraio 2008. http://it.wikipedia.org/wiki/Diodo_laser