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7 Conclusioni e sviluppi futuri
La ricerca bibliografica, lo studio delle sue parti più significative, la sperimentazione ripetuta e le relative analisi hanno portato alla conclusione che entrambi i metodi, meccanico e ottico, conducendo a risultati simili, sono idonei nel caratterizzare la superficie di manufatti lapidei lucidati.
E’ stata verificata la bontà della formulazione teorica e, quindi, l’efficacia del riflettometro come strumento ottico di indagine delle caratteristiche superficiali di manufatti lapidei lucidati; sono stati confrontati i valori di Rk (Core roughness depth), ottenuti dalle prove sperimentali eseguite col rugosimetro su ventidue campioni, con quelli ricavati sostituendo nella formula (2) (par.6.2) i dati provenienti dalle misure dell’Intensità di Luce Riflessa Speculare Effettiva (I), relative agli stessi campioni eseguiti col riflettometro.
Si è verificata la corrispondenza dei valori numerici delle due serie di dati di Rk (tabella 6.1 e figura 6.5).
L’analisi dei dati ha evidenziato l’andamento inversamente proporzionale tra il parametro Rk e l’I; infatti, con il miglioramento della finitura superficiale dei campioni l’Rk diminuisce e l’I aumenta.
Generalmente quasi tutti i campioni, ad eccezione del Travertino, presentano superfici a Plateau, ed i valori del parametro Rk ne sono una conferma; con il peggiorare della finitura superficiale, ed in particolare per manufatti levigati si è visto comunque la presenza di superfici ad altopiano su cui spuntano le vette non ancora asportate dalle successive fasi di levigatura e di lucidatura.
Da ciò si capisce quanto il processo di lavorazione ed in particolare la lucidatura siano importanti per avere un prodotto di qualità, ma sono altrettanto importanti la conoscenza della composizione mineralogica, della struttura, della grana del litotipo e dell’utilizzo finale che il manufatto deve avere.
Per quanto riguarda i due strumenti impiegati nella ricerca, il Rugosimetro si è dimostrato preciso e affidabile nelle misurazioni per definire le caratteristiche superficiali dei manufatti. Inoltre per riferire e movimentare con precisione i
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campioni da studiare è stato installato, sul basamento della macchina, un sistema di movimentazione manuale degli assi di riferimento; successivamente per velocizzare l’operazione di acquisizione dei dati si è collegato il rugosimetro al PC rendendo così disponibili sul calcolatore quei dati che prima erano confinati nella memoria dello strumento e costituivano la grossa limitazione al suo impiego nella ricerca.
L’operazione di interfacciamento non è stata semplice, ma alla fine la fatica è stata premiata. I risultati ed i dati, ottenuti dalle misurazioni, disponibili direttamente sul PC, sono stati utilizzati per l’analisi e la caratterizzazione della superfici lapidee e per l’ottenimento dei profili bi e tridimensionali.
Un’ipotesi di sviluppo futuro del rugosimetro S3P è rappresentata dall’applicazione di un sistema di assi di riferimento controllati che, corredato di un opportuno software, consenta di gestire dal PC tutte le operazioni della macchina permettendo, così di svolgere in modo completamente automatico le misurazioni.
Dopo la sperimentazione e la sua validazione, il Riflettometro si è dimostrato ottimo come strumento per identificare la qualità superficiale di manufatti lapidei quali lastre e piastrelle lucidate; inoltre l’impiego rapido e veloce che, non impone alcun contatto con la superficie da esaminare, costituisce il suo punto di forza .
L’applicazione in termini industriali è rivolta in particolare ai seguenti possibili impieghi:
- controllo di qualità off-line di manufatti, in fase di finitura,con strumenti portatili o su postazioni fisse dedicate;
- controllo del processo di lucidatura on-line;
- classificazione automatica dei prodotti in funzione del grado di finitura.
Sono gia stati realizzati dei prototipi di riflettometro sia portatili che fissi:
Un modello portatile è stato realizzato in collaborazione con l’Università di Cassino; esso è simile ad un mouse con il corpo in acciaio inox in cui sono alloggiate le componenti optoelettroniche racchiuso da un carter in alluminio verniciato (fig 7.1), sulla sua sommità è collocato un display per visualizzare i dati delle misurazioni che possono essere trasferiti ad un file digitale attraverso la connessione ad un calcolatore.
Per i tipi fissi si sono studiati due tipologie:
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1) nel caso sia richiesta un’analisi accurata dei prodotti lucidati si è realizzato un sistema ad assi controllati, posizionato su un’adeguata struttura rigida, che garantisce lo spostamento preciso e programmabile della strumentazione, mentre il campione è poggiato su riferimenti fissi (fig. 7.2).
2) posizionamento on-line di riflettometri per l’analisi diretta delle superfici appena lucidate. Questo sistema garantisce oltre al controllo di qualità e catalogazione istantanea dei prodotti, il controllo di processo con l’immediata segnalazione di anomalie presenti sulla linea di lucidatura (fig. 7.3).
Figura 7.1 Riflettometro portatile Figura 7.2 Postazione fissa
Figura 7.3 Sistema per il controllo del processo di lucidatura on-line
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