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Conduzione e resistivita'

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Academic year: 2021

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Testo completo

(1)

B C N O

Boro

Alluminio

Gallio

Indio

Titanio

Ossigeno Azoto

Carbonio

Zolfo Fosforo

Silicio

Selenio Arsenico

Germanio

Tellurio Antimonio Stagno

Polonio Bismuto

Piombo Zinco

Mercurio Cadmio

IIIA

IIB

VA

IVA VIA

5 6 7 8

31 32 33 34

49 50 51 52

13 14 15 16

81 82 83 84

30

48

80

Isolanti

Semiconduttori

Conduttori   105m rame:3⋅108m

  103m diamante :1014m

10−5    103m silicio :2300  m

Al Si P S

Ga Ge As Se

Zn

Ti Pb Bi Po

Hg

In Sn Sb Te

Cd

Semiconduttori

100 103 106 109 1012 1015 1018 1021cm­3

Conduzione e resistivita'

J :  vettore densita' di corrente E :  campo elettrico

n :  densita' dei portatori di carica q :  carica dei portatori

 :  mobilita' dei portatori

 :  conducibilita' elettrica

 : resistivita' elettrica

J = n q  E n q   =  = 

 ­1

La  enorme  differenza  di  resistivita'  tra  conduttori,  semiconduttori e isolanti e' dovuta principalmente alla  differenza di concentrazione dei portatori di carica.

Germanio: primo ad essere utilizzato Silicio: il piu' utilizzato attualmente GaAs, InP: semiconduttori misti

Rame ­ = 0.004  

m2/V∙s Diamante

­ = 0.18

+ = 0.14

Germanio

­ = 0.38

+ = 0.18 Silicio

­ = 0.19

+ = 0.05

(2)

Alcuni dispositivi a semiconduttore al germanio ed al silicio

transistor al germanio

diodo al silicio per piccoli segnali

diodi al silicio di media e grossa potenza

transistor al silicio

transistor di potenza al silicio

circuito

integrato digitale microprocessore

(3)

Semiconduttore intrinseco

Schema bidimensionale del reticolo cristallino di atomi tetravalenti

T = 0 K T > 0 K

+

­

A T = 0 0K tutti gli elettroni sono impegnati nei legami di valenza.

+

­

Lacuna.

Elettrone

ni2=n2=p2=B T3e−EG/kT n  = concentrazione di elettroni p  = concentrazione di lacune A T > 0 0K alcuni legami si rompono e si formano coppie elettrone – lacuna.

B  =  parametro caratteristico del materiale  (per Silicio: B = 1.08 ∙ 1031   K ­3 cm­6 ) EG =  band gap energy (energia di legame)  (per Silicio: EG = 1.12 eV)

k = 1.38 ∙ 10­23 J/K ≃ 86  eV/ ˚K kT = 25.8 m eV ( a T = 300 ˚K )

(4)

Concentrazione n

i

 di elettroni e lacune nel Silicio intrinseco

(5)

Lacuna.

+

+B +A

Movimento delle lacune

Una lacuna si trova in A; un elettrone di valenza salta da B in A.

La lacuna in A scompare e riappare in B.

(6)

   Metalli       Semiconduttori

∂ 

T 0

J=qn 

n

E

= q n 

n

∂ 

T 0

J=q n 

n

p 

p

  E

= q  n 

n

p 

p

La conduzione di corrente e' data  dagli  elettroni  (negativi)  e  dalle  lacune (positive).

(Il  libero  cammino  medio 

diminuisce con la temperatura) (Il numero di portatori n e p  aumenta con la temperatura) La conduzione di corrente e' data 

dai soli elettroni (negativi).

Conduzione nei:

Modello a bande di energia

.  .  .  . 

in un semiconduttore si ha un doppio meccanismo di conduzione legato alla  presenza di portatori di carica negativi (elettroni) e positivi (lacune)

 .  .  .  . 

(7)

Proprieta' chimico­fisiche di Germanio e Silicio

    simbolo    Ge      Si   unita'

numero atomico    32      14

peso atomico   72.6     28.1

densita'   5.32     2.33 g/cm2

densita' atomica 4.4 ∙ 1022   5 ∙ 1022 atomi/cm3

costante dielettrica relativa   16     12

EG  ( “band gap” )  0.72     1.1 eV

conc. intrinseca portatori ni  2.5 ∙ 1013  1.5 ∙ 1010  cm­3 frazione portatori/legami 0.14 ∙ 10­9 0.75 ∙ 10­13 

resistivita'     0.45    2300  ∙ m

mobilita' elettroni n    0.38    0.14 m2 V / s

mobilita' lacune p    0.18    0.05 m2 V / s

coeff. diffusione elettroni Dn 9.9 ∙ 10­3 3.4 ∙ 10­3 m2 / s coeff. diffusione lacune Dp 4.7 ∙ 10­3 1.3 ∙ 10­3 m2 / s

(8)

Semiconduttore estrinseco

+ +

­

Lacuna.

Elettrone

Silicio

Atomo “accettore”(In, Ga) Atomo “donatore” (As, P)

­

Semiconduttore di tipo N.

Il  drogaggio  con  atomi  pentavalenti  (donatori)  genera  un  eccesso  di  elettroni  di  conduzione  ed  un  reticolo  di  cariche positive fisse.

Semiconduttore di tipo P.

Il drogaggio con atomi trivalenti  (accettori) genera un eccesso di  lacune ed un reticolo di cariche  negative fisse.

N

D

 = concentrazione di donatori N

A

 = concentrazione di accettori

+ ­

(9)

Legge di azione di massa

n⋅p=n

i2

T 

tipo “n” tipo “p”

elettroni lacune

Semiconduttore di

maggioritari minoritari

minoritari maggioritari n >> p p >> n NAni p=NA , n=ni2/ NA

NDni n=ND , p=ni2/ ND

densita' atomica nel Si drogaggi ­ NA, ND

cm

3

10

3

10

6

10

9

10

12

10

15

10

18

10

21

10

24

concentrazioni maggioritari pp, nn concentrazioni

minoritari pn, np

ni @ T = 300 °K

(10)

Corrente di diffusione

In presenza di un gradiente di concentrazione dei portatori si ha trasporto di carica per diffusione. Nel caso unidimensionale:

J p=−q Dp dp

dx Jn=q Dn dn dx

D   e   sono  correlate dalla equazione di Einstein:

Dp

p = Dn

n = VT = kT

q

26 mV @T =300 K

La corrente totale e' data dalla somma di conduzione e diffusione:

J p=q p p E −q Dp dp

dx Jn=q nn E q Dn dn dx

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