S TUDIO DEI FENOMENI DI POLARIZZAZIONE
1
Vincenzo Resta
vincenzo.resta@le.infn.it; vincenzo.resta@unisalento.it
1
LEGGE DI MALUS
Consideriamo un’onda di intensità I
Consideriamo un onda di intensità I
0, incidente su un polarizzatore
Supponiamo che sia polarizzata
E E cos
Supponiamo che sia polarizzata linearmente col campo E in un piano
parallelo al polarizzatore, ma inclinato
analizzatore
Possiamo immaginare l’onda incidente come composta da un’onda di un angolo rispetto al suo asse
polarizzata lungo l’asse con ampiezza Ecosθ e un’onda polarizzata in direzione perpendicolare con ampiezza Esen θ
L t ll l i di t b t t ll di l
La componente parallela passa indisturbata, mentre quella perpendicolare viene assorbita
L’intensità dell’onda che passa il polarizzatore è quindi I E
2cos
2
L intensità dell onda che passa il polarizzatore è quindi I E cos
I 2
I
LEGGE DI MALUS : NOTE
Se l’onda incidente, , non è polarizzata, oltre il polarizzatore si avrà
un’onda polarizzata parallelamente all’asse del polarizzatore
i i à l à di ll i id
1
Ii
con intensità uguale a metà di quella incidente
Ii
I
2
1
0
l i
I f i ’ d l i l d i E
θ d Epolarizzatore
Infatti per un’onda non polarizzata le due componenti Ecosθ ed Esen
θ sono presenti con lo stesso peso e il polarizzatore ne elimina una.Tra l’altro il valor medio di cos
2θ èe quindi l’intensità della luce 1 2
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Tra l altro, il valor medio di cos θ è , e quindi l intensità della luce inizialmente non polarizzata viene ridotta alla metà.
3
2
APPARATO SPERIMENTALE
1/5laser He-Ne
(λ = 632.8 nm) lamina
polarizzatrice lamina
polarizzatrice rivelatore
Photodiode Analyzer
Polarizer Unpolarized
light IIi
APPARATO SPERIMENTALE
2/5
laser He-Ne (λ = 632.8 nm)
laser He-Ne
lamina polarizzatrice
lamina polarizzatrice
Polaroid: fogli di idrocarburi con molecole a catene lunghe (conduttrici dopo immersione in iodio) che trasmettono la luce il
i E ┴ l h ( di i i )
cui campo E ┴ lunghezza catena (asse di trasmissione)
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APPARATO SPERIMENTALE
3/5
Fotodiodo
Fotodiodo
Giunzione p-n polarizzata inversa.
I fotoni incidenti sono assorbiti e generano coppie
I fotoni incidenti sono assorbiti e generano coppie elettrone-lacuna (e-h). L’assorbimento può avvenire se l’energia del fotone incidente è maggiore dell’energia di gap del semiconduttore:
Le coppie e-h nella zona vicina all’interfaccia p−n, detta regione
di t t t
hν ≥ Eg.
di svuotamento, vengono separate
e generano corrente (moto di portatori di carica nel loro moto di allontanamento.
I fotodiodi devono essere sottili per poter funzionare ad alta
I fotodiodi devono essere sottili per poter funzionare ad alta velocità ma abbastanza spessi per assicurare un adeguato assorbimento di fotoni
APPARATO SPERIMENTALE
4/5
Il fotodiodo trasduce l’intensità luminosa in corrente elettrica.
Per basse intensità della radiazione incidente la fotocorrente è proporzionale Per basse intensità della radiazione incidente, la fotocorrente è proporzionale all’intensità luminosa. Per alte intensità la risposta non è più lineare
INTENSITÀ LUMINOSA
FLUENZA DI RADIAZIONE CORRENTE ELETTRICA FLUENZA DI RADIAZIONE
ELETTROMAGNETICA
Per basse intensità della radiazione Per basse intensità della radiazione incidente, la fotocorrente è proporzionale all’intensità luminosa. Per alte intensità la risposta non è più lineare
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APPARATO SPERIMENTALE
5/5
Risposta spettrale
La risposta spettrale di un fotodiodo dipende dalla lunghezza d’onda della luce incidente. Un fotodiodo è trasparente per fotoni con energia inferioreg alla band gap che determina il limite di sensibilità nell’IR. La minima lunghezza d’onda dipende invece dalle caratteristiche costruttive, e per i fotodiodi al Si, dall’assorbimento della finestra d’ingresso
SPETTRO ELETTROMAGNETICO
1/21.77 eV 3.10 eV
8 . ) 1239
E ( V
V hc E ( )
)
~ ( )
( eV nm
E
eV
E ( )
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SPETTRO ELETTROMAGNETICO
2/2PROCEDURA
1/2
Sistemare laser, fotodiodo e polarizzatore.
- Verificare di essere ad incidenza normale.
- Ruotare il polarizzatore in modo da verificare se la sorgente e’
polarizzata. In caso di sorgente polarizzata ottenere la massima intensità trasmessa, che indichiamo con Io.
IMPORTANTE: verificare che il fotodiodo non saturi (regime lineare).)
Aggiungere l’analizzatore
Cercare il massimo dell’intensità, I, e acquisire valori ogni 10° di t i d ll’ li t
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rotazione dell’analizzatore
11
PROCEDURA
1/2
Mettere in tabella e in grafico i rapporti I/I
0. Confrontare questi ultimi con la legge del cos
20 8 1.0
0.4 0.6 0.8
(a.u.)
0 30 60 90 120 150 180
0.0
I/I 0 0.2
0 30 60 90 120 150 180
angle (°)
IMPORTANTE I/I è !
IMPORTANTE: I/I
0è un numero puro!
S TUDIO DEI FENOMENI DI DIFFRAZIONE
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Vincenzo Resta
vincenzo.resta@le.infn.it; vincenzo.resta@unisalento.it
1
DIFFRAZIONE
Fenomeno fisico associato all’interazione di un’onda con un ostacolo (o una fenditura) di dimensioni
con la propria lunghezza d’onda COMPARABILI con la propria lunghezza d onda.
COMPARABILI
Esistono 2 tipi di diffrazione:
1. Fraunhofer sorgente all’infinito 2. Fresnel sorgente a distanza finita 2. Fresnel sorgente a distanza finita
La diffrazione di Fraunhofer è la più semplice da trattare dal punto vista teorico (raggi parassiali o lente convergente su schermo vicino).( gg p g )
PRINCIPIO DI HUYGENS E PRINCIPIO DI SOVRAPPOSIZIONE
P i i i di H P i i i di S i i
Principio di Huygens
Dopo che la luce ha attraversato una fenditura, ogni punto della
Principio di Sovrapposizione La funzione d’onda risultante da due o più onde in propagazione in una fenditura, ogni punto della
fenditura si comporta come sorgente di onde circolari e queste onde interagiscono tra loro
due o più onde in propagazione in un mezzo è la somma algebrica delle funzioni delle singole onge onde interagiscono tra loro
mediante il fenomeno detto
dell’interferenza.
ampiezza risultante fase risultante
cos 2 cos 2
2
0
1
2
1
2t
E E
t) cos(
) cos(
10 1
t E
E
t E
E
2 2
) cos(
20
2
E t
E
Tali onde hanno uguale lunghezza campo risultante che oscilla alla stessa
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d’onda (e quindi frequenza), ampiezza
frequenza ma con ampiezza e fase che dipendono da φ1 e φ2
I NTERFERENZA TRA DUE SORGENTI
2
I 2I 1
E I
Intensità I E
t2 I 2 I
0 1 cos
1
2
~ cos ( )
cos
1
2k r
1 r
2r1
In realtà hanno la stessa fase (iniziale) ma sono caratterizzate da una differenza di cammino ottico
S sen
(S è la separazione tra le dueS Ԃ
r2 ottico (S è la separazione tra le duesorgenti)
S sen
INTERFERENZA Ԃ
1
2 r
r
r2
INTERFERENZA COSTRUTTIVA INTERFERENZA
DISTRUTTIVA
FIGURA DI DIFFRAZIONE
1/2
Minimo di 1° ordine
differenza di cammino ottico tra le onde secondarie generate dal bordo superiore della fenditura e y3
bordo superiore della fenditura e dal suo punto medio
ϑ
y1 y2
y a
0 Vincenzo Resta
i i i i
-y2
d
-y1
y: separazione massimo-minimo
-y3vincenzo.resta@le.infn.it 5
FIGURA DI DIFFRAZIONE
2/2differenza di cammino ottico tra le onde secondarie generate dal bordo superiore della fenditura e
a senԂ a/2
a/2 Ԃ
a
bordo superiore della fenditura e dal suo punto medio
2 2
sen
condizione generale interferenza
a/2a sen 2
g
distruttiva in una figura di diffrazione
, 2 ,
1
m m
sen
comparsa dellafrangia scura
, ,
a m m sen
) (~
~
sen
d y tg d m 1 , 2 ,
m
a
frangia scura
) (
d g
approssimazione di Gauss
, 2 ,
1
y m
m
a
ESEMPI DI FIGURE DI DIFFRAZIONE
fenditura rettangolare
NOTA: per la relazione INVERSA tra larghezza della fenditura e dimensione della figura di diffrazione, le frange saranno meno spaziate nella direzione della dimensione maggiore
fenditura verticale
apertura circolare
2 di t di di Ai
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2y: diametro disco di Airy
APERTURA CIRCOLARE
di h f i l
Diffrazione
1 asen
20
2
I J k I
di Fraunhofer per apertura circolare
0
kasen I
I
J1 si annulla (minimo della figura di diffrazione) per
funzione di Bessel del 1°tipo di ordine 1
7.016, 3.832,
0,
~ kasen
2 a 22 . 2 1
83 .
~ 3
sen
a 2 a 2
~ 1 . 22
APPARATO SPERIMENTALE
laser He-Ne (λ = 632.8 nm) o diodo
laser He-Ne
fenditura circolare
fenditura rettangolare verticale
Verificare di essere ad incidenza normale
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PROCEDURA
1/2
Apertura circolare
y tg
approssimazione di Gauss
y: raggio di disco di Airy
d: distanza fenditura schermo
tg ~ sen ~ d
d: distanza fenditura schermo
~ sen ~ y ϑ
~
mind y y ϑ
d d
d D ~ 1 . 22
D: diametro apertura
d: distanza fenditura - schermo
i i i i
y
y: separazione massimo - minimo
PROCEDURA
2/2
fenditura verticale
d y: separazione massimo-minimo
y
a d d: distanza fenditura – schermo λ: lunghezza d’onda
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FONTI DI ERRORE
Qual è la maggiore fonte di errore?
CRITERIO DI RAYLEIGH
1/2
due sorgenti puntiformi sono appena risolvibili se la loro separazione angolare è almeno pari a
D
min 1 . 22
In questo caso il massimo principale della figura di In questo caso il massimo principale della figura di diffrazione di una sorgente coincide col minimo della figura di diffrazione dell’altra sorgente.
Il percepire le due sorgenti separate è un fatto soggettivo!!!
vincenzo.resta@le.infn.it 13
Per questo si parla di criterio.
C id i li i à d l i if i di i i i
CRITERIO DI RAYLEIGH
2/2Consideriamo per semplicità due sole sorgenti puntiformi distanti, incoerenti e aventi la stessa luminosità (due stelle viste attraverso l'obiettivo di un telescopio,) nel qual caso la pupilla d'entrata corrisponde all'apertura di diff i
diffrazione.
Dato che il raggio del disco di Airy
f D 1 22
distanza focale separazione fenditura-
h
Se Δϑ è la misura angolare corrispondente allora finchè si può
y D ~ 1 . 22 f
1 . 22
schermo
Se Δϑ è la misura angolare corrispondente, allora , finchè si può
porre .
D
diminuire λ
f~
yridurre la minima separazione
risolvibile
aumentare il potere risolutivo
(microscopi elettronici)
risolvibile
aumentare il diametro
S TUDIO DEI FENOMENI DI INTERFERENZA
1
Vincenzo Resta
vincenzo.resta@le.infn.it; vincenzo.resta@unisalento.it
1
APPARATO SPERIMENTALE
laser He-Ne (λ = 632.8 nm) o diodo
doppia fenditura
reticolo di diffrazione
Verificare di essere ad incidenza normale
DOPPIA FENDITURA
1/4 le due fenditure rappresentano sorgenti coerenti di onde sinusoidali con la stessa ampiezza, frequenza e una differenza di fase constante
L diff di f d ll d di d d ll diff di
La differenza di fase delle onde φ dipende dalla differenza di cammino ottico
k2
S sen
P
diff di
y
r1ϑ
una differenza di cammino pari a λ S
y
r2
ϑ
O
dà una differenza di f di 2
S
1
2 r
r
a
Vincenzo Resta R
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di fase di 2π
d
SOVRAPPOSIZIONE
P i i i di H P i i i di S i i
) cos(
E t
E
Principio di Huygens + Principio di Sovrapposizione
) cos(
) cos(
2 0
2
1 0
1
t E
E
t E
E
cos(
1) cos(
2)
0
E t t
E
t cos( ) cos( )
0
E t t
E
t
Sk
2
k
S senTali onde hanno uguale lunghezza d’onda (e quindi frequenza), ampiezza e una differenza di fase dovuta solo alla differenza di
DOPPIA FENDITURA
2/4
intensità della luce mediata nel tempo
dsen I
I
2
I
I
maxcos
2Imax: intensità nel punto medio tra le due fenditure
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INTERFERENZA
INTERFERENZA DISTRUTTIVA INTERFERENZA
COSTRUTTIVA
CONDIZIONI PER L ’ INTERFERENZA
Le sorgenti devono essere coerenti (relazione di fase costante)
L ti d l t l h
Le sorgenti devono avere la stessa lunghezza d’onda (radiazione monocromatica)
Principio di sovrapposizione
Principio di sovrapposizione
Le onde devono avere lo stesso stato di polarizzazione
polarizzazione
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DOPPIA FENDITURA
3/4frange di interferenza frange di interferenza
modulate dalla diffrazione
Vincenzo Resta
fronte d’onda PIANO fronte d’onda PIANO perché siamo in condizioni di
diffrazione di Fraunhofer (sorgente all’infinito)
DOPPIA FENDITURA
4/4separazione fenditure
ampiezza fenditure
Vincen o Resta
msen
S int
a sen
diff
m
interferenza diffrazione
Vincenzo Resta
ydiff distanza tra massimo y distanza tra massimi
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centrale e 1° minimo nella figura di diffrazione yint distanza tra massimi
nella figura di interferenza
RETICOLO DI DIFFRAZIONE
1/4
Consideriamo il caso in cui ci siano N sorgenti equispaziate tutte con la stessa ampiezza E
0e frequenza ω/2π ma differenti in fase o perché frequenza ω/2π ma differenti in fase, o perché hanno fase iniziale diversa o perché le vediamo ad una distanza tale per cui ci sia una differenza p di CAMMINO OTTICO.
cos cos cos 2 ... cos ( 1 )
0
E t t t t N
E
t
k2
S sen
differenza di fase delle onde dovuta alla differenza di cammino otticoRETICOLO DI DIFFRAZIONE
2/4
intensità della radiazione in funzione del numero
di sorgenti
22
sen N
I I
2 0 2
2
I sen I
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RETICOLO DI DIFFRAZIONE
3/4
Se le N sorgenti equispaziate sono a distanza d il profilo di intensità nella direzione θ
kd
2 2
0
2
kdsen
Nkdsen sen
I I
2 0
sen
2 kdsenRETICOLO DI DIFFRAZIONE
4/4
diffonde la luce provieniente da diverse fenditure (righe trasparenti o riflettenti)
i f di d diff i
ogni fenditura produce diffrazione
i fasci diffratti interferiscono
m
sen
S int
Nota : in generale esistono reticoli con 103-104 linee/cm
N t l l i INVERSA t l h
Nota : per la relazione INVERSA tra larghezza della fenditura e dimensione della figura di diffrazione, le frange dovute alla diffrazione da ciascuna linea saranno molto meno spaziate che
vincenzo.resta@le.infn.it 13
ciascuna linea saranno molto meno spaziate che nella doppia fenditura, tanto da non poter essere visualizzabili
CD E DVD
1/2Il f i l è iù l d l di d ll i à
Il fascio laser è più largo del diametro della cavità.
La cavità crea uno 0 (punto di minino nell’intensità luminosa), perché l’altezza h della cavità è tale che si abbia luminosa), perché l altezza h della cavità è tale che si abbia interferenza distruttiva tra la luce riflessa fuori dalla cavità e luce riflessa dalla cavità.
L l ifl i d ll t d l di l li t t
La luce riflessa invece dalla parte del disco localizzata tra
due cavità adiacenti crea un punto di massimo nell’intensità
luminosa
CD E DVD 2/2
di i i d ll d l l ( ) minore λ
dimensioni dello spot del laser (⌀) dimensioni delle cavità (w)
lunghezza delle cavità (l)
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passo reticolare (separazione tra le cavità, p)