• Non ci sono risultati.

[1] AIAG - Automotive Industry Action Group. Reliability methods guideline, 2004.

N/A
N/A
Protected

Academic year: 2021

Condividi "[1] AIAG - Automotive Industry Action Group. Reliability methods guideline, 2004."

Copied!
8
0
0

Testo completo

(1)

Bibliografia

[1] AIAG - Automotive Industry Action Group. Reliability methods guideline, 2004.

[2] Paolo Attanasio. Iniezione elettronica con attuatori a solenoide per motori a benzina.

Dispensa per corsi interni Siemens.

[3] http://www.bmw.com.

[4] Gary G. Brush. Come scegliere la numerosit` a appropriata del campione, volume 12 di Collana Qualit` a. Editoriale Itaca, 1992.

[5] http://www.daimlerchrysler.com.

[6] Renato Della Volpe. Macchine. Liguori Editore, Napoli, 2002.

[7] Department of Defense of U.S.A. - Military Handbook. Sampling Procedures and Tables for Life and Reliability Testing (Based on Exponential Distribution), 1960. MIL-HDBK- 108.

[8] Department of Defense of U.S.A. - Military Handbook. Environmental Stress Screening (ESS) of Electronic Equipment, 1993. MIL-HDBK-344A.

[9] Department of Defense of U.S.A. - Military Handbook. Reliability prediction of electronic equipment, 1995. MIL-HDBK-217F.

[10] Department of Defense of U.S.A. - Military Handbook. Handbook for Reliability Te- st Methods, Plans and Environments for Engineering, Development, Qualification and Production, 1996. MIL-HDBK-781A.

[11] Department of Defense of U.S.A. - Military Handbook. Electronic Reliability Design Handbook, 1998. MIL-HDBK-338B.

[12] Department of Defense of U.S.A. - Military Standard. Reliability modeling and prediction, 1982. MIL-STND-756B.

[13] Department of Defense of U.S.A. - Military Standard. Environmental engineering considerations and laboratory tests, 2003. MIL-STD-810f.

[14] Department of Defense of U.S.A. - Military Standard. Test methods for electrical connectors, 2004. MIL-STD-1344A.

359

(2)

360 BIBLIOGRAFIA [15] Department of Defense of U.S.A. - Military Standard. Test method standard on

Microcircuits, 2006. MIL-STD-883G.

[16] http://www.efunda.com.

[17] Emitec. Worldwide emission standards and related regulations. 1 Aprile 2006.

[18] Alessandro Facchin. Basic elements of electronic injection. Dispensa per corsi interni Siemens.

[19] http://www.failure-analysis.it.

[20] http://www.fiat.it.

[21] http://www.ford.it.

[22] Iq-rm v.4.0, 1992-2001.

[23] F. Jensen e N.E. Petersen. Burn-in: prove accelerate di resistenza ai guasti.

Tecniche Nuove, 1990.

[24] Robert C. Juvinall e Kurt M. Marshek. Fondamenti della progettazione dei componenti delle macchine. Edizioni ETS, Pisa, 2002.

[25] Dimitri Kececioglu. Reliability Engineering Handbook, volume 1. Prentice Hall, Englewood Cliffs, New Jersey, 1991.

[26] Dimitri Kececioglu. Reliability Engineering Handbook, volume 2. Prentice Hall, Englewood Cliffs, New Jersey, 1991.

[27] William Q Meeker e Gerald J. Hahn. Come programmare una prova accelerata di durata, volume 10 di Collana Qualit` a. Editoriale Itaca, 1992.

[28] Microchip Technology, Inc. PIC16F87XA Datasheet, 2003.

[29] Step 7-micro/win 4.0 sp1, 1996-2004.

[30] Minitab ® release 14.1, 1972-2003.

[31] Minitab, Inc. Reliability and Survival Analysis, 2005.

[32] National Instruments. DAQ M SERIES - M series user manual, 2006.

[33] http://www.psa-peugeot-citroen.com.

[34] ReliaSoft Publishing. Accelerated Life Testing Reference, 2001.

[35] ReliaSoft Publishing. System Analysis Reference: Reliability, Availability and Optimization, 2003.

[36] ReliaSoft Publishing. Life Data Analysis Reference, 2005.

(3)

BIBLIOGRAFIA 361 [37] ReliaSoft Publishing. Reliability Growth Reference, 2005.

[38] http://www.renault.it.

[39] Siemens Energy & Automation, Inc. Simatic - Sistema di automazione S7-200 - Manuale di sistema, 2005.

[40] STMicroelectronics. L6205 - Dmos dual full bridge driver, 2003.

[41] Rinaldo Tartari. Quality Engineering handbook. Franco Angeli, Milano, 2002.

[42] Nelson Wayne. Accelerated testing: statistical models, test plans and data analyses.

John Wiley & Sons, Inc., New York, 1990.

[43] Nelson Wayne. Come analizzare i dati con semplici grafici, volume 1 di Collana Qualit` a.

Editoriale Itaca, 1991.

[44] Nelson Wayne. Come analizzare i dati di affidabilit` a, volume 6 di Collana Qualit` a.

Editoriale Itaca, 1991.

[45] http://www.weibull.com.

[46] http://www.wikipedia.org.

(4)
(5)

Indice analitico

A

affidabilit` a . . . 5

durata di missione . . . 11

effetti degli stress . . . 11

effetti dell’et` a . . . 10

funzione di . . . 17

vita media . . . 19

affidabilit` a condizionale . . . 6, 18 allocazione provini . . . 115

ALT . . . 62, 67 progetto . . . 68

Arrhenius distribuzione di Weibull . . . 86

distribuzione esponenziale . . . 83

distribuzione lognormale . . . 89

fattore di accelerazione . . . 81

modello . . . 79

assembly line . . . 154

ATBT . . . 178, 187 B BMW . . . 128

PPQ . . . 129

BOD . . . 142

budget di potenza . . . 189

burn-in . . . 70, 72 progetto . . . 72

C carte di probabilit` a . . . 32

clean room . . . 121

competitivit` a dei guasti . . . 59

confidenza . . . 7

limite bilaterale . . . 7

limite unilaterale . . . 7

contaminazione . . . 141

Curva S-N . . . 66

D data code . . . 140

dati censurati a intervallo . . . 22

censurati a sinistra . . . 22

completi . . . 20

sospesi . . . 22

DekaVII . . . 130

ATB . . . 133, 153 FM . . . 133

IT . . . 133

lower guide . . . 133

lower screen . . . 133

LT . . . 133

NMT . . . 133

OD . . . 133

PP . . . 133

VB . . . 133

LT . . . 154

PWG . . . 130

densit` a di probabilit` a di guasto . . . 13

stima . . . 14

DI . . . 120

dimple . . . 142

E EBPT . . . 178, 184, 196 esponenziale affidabilit` a . . . 26

affidabilit` a condizionale . . . 27

media . . . 25

mediana . . . 25

metodi grafici . . . 32

moda . . . 25

tasso di guasto . . . 28

varianza . . . 25

363

(6)

364 INDICE ANALITICO ESS . . . 62, 70

ottimizzazione . . . 71

progetto . . . 70

Euro 3 . . . 160

Euro 4 . . . 160

Exxsol . . . 156

Eyring distribuzione di Weibull . . . 95

distribuzione esponenziale . . . 93

distribuzione lognormale . . . 96

fattore di accelerazione . . . 93

modello . . . 91

F fatica . . . 64

fattore di accelerazione . . . 11

fattore di rischio . . . 147

FC . . . 120

flessione rotante . . . 66

FMEA . . . 147

D-FMEA . . . 149

P-FMEA . . . 149

FR . . . 120

G guasto . . . 128

casuale . . . 8

di anzianit` a . . . 9

giovanile . . . 8

primario . . . 113

tasso di . . . 16

H HALT . . . 62

progetto . . . 63

HASS . . . 63

detection . . . 63

precipitation . . . 63

I iniettore Q

d

. . . 125

Q

s

. . . 125

a solenoide . . . 122

calibrazione . . . 125

circuito elettrico . . . 124

circuito idraulico . . . 124

circuito magnetico . . . 122

curva di erogazione . . . 126

lift . . . 125

linearit` a . . . 126

pressione di sistema . . . 125

SMOV . . . 128

tenuta . . . 126

tip leak . . . 126

top leak . . . 128

ugello . . . 125

iniezione . . . 121

elettronica . . . 121

IPL distribuzione di Weibull . . . 101

distribuzione esponenziale . . . 99

distribuzione lognormale . . . 102

fattore di accelerazione . . . 99

modello . . . 98

Palmgren-Miner . . . 98

J jump start . . . 186

Just in Time . . . 175

K Kolmogorov-Smirnov . . . 55

L lognormale affidabilit` a . . . 51

affidabilit` a condizionale . . . 52

media . . . 50

mediana . . . 50

metodi grafici . . . 52

moda . . . 50

tasso di guasto . . . 52

varianza . . . 50

M manifold . . . 200

media . . . 15

mediana . . . 15

moda . . . 15

modelli accelerati

singolo stress . . . 78

(7)

INDICE ANALITICO 365

stress multipli . . . 78

modello di danno accumulato . . . 110

MTBF . . . 20

N N-eptano . . . 139

N51 . . . 197

N52 . . . 200

NGR6 . . . 163

normale affidabilit` a . . . 44

affidabilit` a condizionale . . . 44

funzione troncata . . . 44

metodi grafici . . . 45

tasso di guasto . . . 44

NTF . . . 139

numerosit` a del campione . . . 115

O ODT . . . 178, 180 overlap . . . 214

P pdf esponenziale . . . 24

esponenziale a due parametri . . . 26

lognormale . . . 47

normale . . . 42

Weibull . . . 32

PLC S7-200 . . . 189

pneumatico . . . 160

popolazioni miste . . . 56

affidabilit` a . . . 57

affidabilit` a condizionale . . . 57

distribuzione . . . 57

Weibull . . . 57

impieghi . . . 59

metodi grafici . . . 58

tasso di guasto . . . 57

PPQ5 . . . 129, 175 prevenzione . . . 129

reazione . . . 129

PPT . . . 178

PQS Lab . . . 137

pressure decay . . . 137

problema della mappatura . . . 78

prova di Moore . . . 66

prove accelerate . . . 62

pianificazione . . . 113

PV . . . 156

cicli termici . . . 157

durata . . . 156

prova di scoppio . . . 158

resistenza alla corrosione . . . 158

shock termici . . . 158

stress meccanici . . . 158

vibrazioni . . . 158

PWGT . . . 178, 186, 217 Q qualit` a nel tempo . . . 129

R ranghi mediani . . . 32

approssimazione di Benard . . . 32

rapporto di marcia . . . 160

regressione lineare . . . 38

ritorni . . . 137

factory . . . 139

field . . . 139

flusso di analisi . . . 137

robustezza . . . 129

root cause . . . 139

RPN . . . 149

S SAEJ1832 . . . 126

Sample Lab . . . 203

Siemens VDO Automotive . . . 119

SOP . . . 130

spiantaggio . . . 182

stima MLE Arrhenius exponential . . . 85

Arrhenius log-normal . . . 91

Arrhenius-Weibull . . . 88

Eyring exponential . . . 94

IPL exponential . . . 101

stress . . . 61

a gradino . . . 110

(8)

366 INDICE ANALITICO

fattori di overstress . . . 61

scelta del profilo . . . 114

variabile . . . 110

stuck closed . . . 140

stuck open . . . 140

T T-H distribuzione di Weibull . . . 107

distribuzione esponenziale . . . 106

distribuzione lognormale . . . 107

fattore di accelerazione . . . 106

T-H:modello . . . 103

T-NT distribuzione di Weibull . . . 110

distribuzione esponenziale . . . 110

distribuzione lognormale . . . 110

fattore di accelerazione . . . 110

T-NT:modello . . . 107

tear down . . . 139

test funzionali furness . . . 137

linearit` a . . . 139

portate . . . 137

spray . . . 139

transitori . . . 139

test line . . . 151

test plan . . . 133

Totally Clean Injector . . . 142

TP-linked failure . . . 142

TP002 . . . 197

TP055 . . . 197

U uso continuato . . . 61

V varianza . . . 16

vasca da bagno . . . 10

W W¨ ohler curva di . . . 66

Weibull β . . . 33

η . . . 34

affidabilit` a . . . 35

affidabilit` a condizionale . . . 36

media . . . 34

mediana . . . 35

metodi grafici . . . 38

moda . . . 35

tasso di guasto . . . 37

varianza . . . 35

Riferimenti

Documenti correlati

Therefore, the recursive Polynomial Chaos Co-Kriging (RePCoK) provides an efficient manner to build an accurate surrogate model by utilising the information from observations of

In this paper, we present an extension of the PINOCCHIO code that produces catalogues of dark matter haloes so that it is capable of simulating weak lensing by Modify LSS into

Economic Reliability Group Acceptance Sampling Based on Truncated Life Tests Using Pareto Distribution of the Second Kind.. Communications of the Korean

This paper is focused on the first reliability problem which implies the determination of the values of reliability parameters of the DHS components (failure and

The results obtained in the implementation of the equipment service concept of PJSC FGC UES are: - extension of warranty issued by the manufacturer; - ensuring

Sarah McLachlan described with the expression «riding their coattails» how much she herself and many of her contemporary artists had taken advantage of the success of the

Valutare l’incidenza di LGE (late gadolinium enhancement) nel prolasso valvolare mitralico (PVM), in assenza di altre patologie valvolari/cardiache, e la sua associazione

Alberi come Rivelatori dell’Inquinamento Ambientale Progetto A.R.I.A.. Masi