Modellistica del trasporto per diodi tunnel Modellistica del trasporto per diodi tunnel Double Barrier – Quantum Well interbanda Double Barrier – Quantum Well interbanda
Relatori:
Prof. G. Manes Prof. G. Borgioli
Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Universitá di Firenze Universitá di Firenze
Prof. G. Frosali Ing. A. Cidronali
Dipartimento di Matematica Applicata “G. Sansone” Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Universitá di Firenze Universitá di Firenze
Candidato: Matteo Camprini
Anno Accademico 1999 - 2000
Diodi tunnel: caratteristiche Diodi tunnel: caratteristiche
La principale caratteristica di un diodo tunnel è la presenza di una regione di funzionamento a resistenza differenziale negativa (N.D.R.).
Tale proprietà rende i diodi tunnel particolarmente utili in numerose applicazioni sia analogiche che digitali.
NDR
Le moderne tecnologie nella lavorazione dei semiconduttori consentono di realizzare strutture multilayer e lattice – matched che permettono di:
Ottimizzare i parametri di funzionamento R.F.
del diodo.
Ottenere un elevato livello di integrazione
Caratteristiche Caratteristiche
Relativa semplicità formale.
Accettabili possibilità di simulazione e previsione della caratteristica quasi-statica dei dispositivi.
Dati Dati
Parametri fisici dei semiconduttori. Diagramma a bande nella regione svuotata.
Definizione di un adeguato un formalismo simbolico.
Implementazione del modello.
Verifica sperimentale mediante confronto con i campioni da
laboratorio forniti dal Motorola Physical Sciences Research Lab.
Procedimento Procedimento
Obiettivi Obiettivi
Realizzazione di un modello physical based per la corrente dovuta all’effetto tunnel in diodi D.B.Q.W interbanda.
Possibilità di effettuare reverse modelling su dispositivi quantistici.
Modelli fisico - matematici per dispositivi ad effetto tunnel Modelli fisico - matematici per dispositivi ad effetto tunnel
Modelli Coerenti Modelli Coerenti
L’elettrone è descritto come un pacchetto di onde piane.
Si assume che la funzione d’onda mantenga coerenza di fase durante la transizione attraverso la barriera
non sono considerati fenomeni collisionali.
Modelli Cinetici Modelli Cinetici
Sono prese in considerazione, in numero limitato, le collisioni con i fononi.
L’elettrone può subire una variazione della propria energia E.
Envelope wave Envelope wave
function function
Density Matrix
Density Matrix
Wigner Function
Wigner Function
Green’s Function
Green’s Function
Definizione del modello utilizzato Definizione del modello utilizzato
E’ un modello coerente introdotto da E. O. Kane nel 1960.
Descrive il comportamento di un elettrone in un sistema a due bande con dispersione di tipo parabolico (massa efficace costante).
Lo stato dell’elettrone è identificato da un pacchetto di onde piane.
La dinamica dell’elettrone è regolata da un sistema di due equazioni differenziali tipo Schrödinger accoppiate da un termine k·P.
Tecnica di raccordo tra le soluzioni
Tecnica di raccordo tra le soluzioni
Matrici di trasferimento Matrici di trasferimento
+ +
Condizioni W.K.B.
Condizioni W.K.B.
Modello di Kane a due bande Modello di Kane a due bande Approccio scelto
Approccio scelto
Modello di Kane a due bande Modello di Kane a due bande Ipotesi preliminari
Ipotesi preliminari
Si considerano solo transizioni conservative. Si suppone di avere un moto unidirezionale ed una struttura omogenea ed illimitata nel piano trasversale alla direzione di trasporto.
L’elettrone mantiene costante la quantità di moto nel piano trasversale.
Il campo elettrico nella regione svuotata è costante.
Per tenere conto degli effetti del drogaggio fortemente degenere si considera una massa efficace derivata da un modello a quattro
bande ed una energia di gap ridotta (band gap narrowing)
Modello di Kane a due bande: funzioni di propagazione Modello di Kane a due bande: funzioni di propagazione
2 2 2
2 2
c 2 c * y z c c c v
0
2 2 2
2 2
v 2 v * y z v v v c
0
j (x, t) (x, t) (k k ) (x, t) E (x, t) P (x, t)
t 2m x 2m j x
j (x,t) (x, t) (k k ) (x, t) E (x, t) P (x, t)
t 2m x 2m j x
se si cercano soluzioni stazionarie nella forma
si ottiene
* 2 2
g g
* 2 2
g g
1 m
x j E 4 E V x dx
2E
1 m
x 4 E V x E dx
2E
c
v
(x) A exp j x (x) B exp j x
Ec EvV x 2
nella banda proibita nelle bande consentite
con
Espressione della corrente di tunneling Espressione della corrente di tunneling
L’espressione della corrente di tunneling è data da
*
tun a 2 3 c a v a a
e m 2E
I V A f E,V f E,V T E,V exp dEdE
2 E
dove
a
c a
v a
T E,V E
f E,V f E,V
è il coefficiente di trasmissione attraverso la barriera è l’energia dell’elettrone nel piano trasversale al moto
è la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio p è la distribuzione di Fermi - Dirac nello strato a drogaggio n
Il coefficiente di trasmissione T dipende, in generale, dall’energia E dell’elettrone incidente e dalla tensione di polarizzazione Va applicata alla struttura.
Nel caso classico di singola barriera sottile l’espressione che si ottiene è
a
T E,V exp 2
dove
E,Va
è la funzione di attenuazione della barrieraTecnica delle matrici di trasferimento Tecnica delle matrici di trasferimento
Barriera singola Barriera singola
Barriera doppia Barriera doppia
2 1
2 1
a a
b S b
La matrice di trasferimento della struttura D.B.Q.W. è data da
S S2 S
1
Coefficiente di trasmissione di un diodo DBQW Coefficiente di trasmissione di un diodo DBQW
Il coefficiente di trasmissione è dato da
2
2 2
a
1 b 0
T E,V a
a
a
1 2
2
2
2 1
2
T E,V 4
16exp 2 cos 4cosh sin
a
1 2
2
2
2 1
2
T E,V 4
16exp 2 cos 4cosh sin
Per una struttura D.B.Q.W. si ottiene:
dove 1
E,Va
sono le funzioni di attenuazione delle barriere
E,Va
è la funzione di sfasamento della buca
2 E,Va
e
E,Va
2n 1
2
E,Va
2n 1
2
La condizione di risonanza è data da
ris 2
2 1
T 1
cosh
ris 2
2 1
T 1
cosh
dipende esclusivamente dalla differenza delle funzioni di attenuazione delle barriere.
Il valore Tris assunto dal coefficiente di trasmissione in condizioni di risonanza
Il modello di Kane, come tutti i principali approcci, sia coerenti che cinetici, è caratterizzato da una sottostima dei valori di corrente, dovuta agli effetti che non sono presi in considerazione (transizioni non conservative, presenza di stati trappola e di superficie, campo elettrico non costante).
Valutazione della corrente di tunneling: parametro di calibrazione Valutazione della corrente di tunneling: parametro di calibrazione
Dato che tali fenomeni non sono direttamente implementabili nel modello, l’unico modo di evitare tale sottostima è quello di inserire un parametro di calibrazione C nelle funzioni di attenuazione delle barriere
1 a
2 a
E,V E,V
1 a 1 a
2 a 2 a
' E,V C E,V ' E,V C E,V
1 a 1 a
2 a 2 a
' E,V C E,V
' E,V C E,V
con C 1
Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc. MBE840 e MBE842
Struttura dei diodi PSRL - Lot K11A-M21 Proc. MBE840 e MBE842
19 3
20 3
20 3
n Si 2.00 10 atomi/cm
1.35 10 atomi/cm p C
1.14 10 atomi/cm
MBE840 MBE842
- 2 - 1 2
6 0 5 0 4 0 3 0 2 0 1 0 0
P o s i t i o n ( n m )
0 1
I A An l s
I G An a s n
p
Energy (eV)
Diagramma a bande fornito dal P.S.R.L.
Versione linearizzata del diagramma a bande (campo elettrico costante)
Misura delle caratteristiche dei prototipi Misura delle caratteristiche dei prototipi
0 . 7
0 0 . 1 0 . 2 0 3 0 . 4 0 . 5 0 . 6
0 2
4 6 8 0 0 . 0 0 1 0 . 0 0 1 2 0 . 0 0 1 4
0 0 . 0 0
0 0 . 0 0
0 0 . 0 0
0 0 . 0 0
V a ( V )
I (Va) (A)
K11A-M21 MBE840 2.5x2.5 m
Le caratteristiche statiche dei prototipi forniti dal P.S.R.L. sono state misurate utilizzando la strumentazione del Laboratorio di Microelettronica (L.M.E.).
Dai dati ottenuti è stata quindi ricavata una caratteristica media per il successivo confronto con i risultati forniti dalla simulazione del modello.
Applicazione della procedura di simulazione Applicazione della procedura di simulazione
Definizione della struttura D.B.Q.W.
Valutazione della dipendenza dalla tensione di polarizzazione dei parametri del diagramma a bande
Identificazione delle modalità di tunneling possibili (con e senza passaggio per la buca)
Definizione di una mappa nel piano E,Va delle regioni associate alle varie modalità di tunneling
T u n n e l i n g d i r e t t o c o n p a s s a g g i o n e l I V s t r a t o T u n n e l i n g a t t r a v e r s o l a b u c a d i p o t e n z i a l e
T u n n e l i n g d i r e t t o s e n z a p a s s a g g i o n e l I V s t r a t o
0 0 1 0 2 0 3 0 4
0 0 . 1 0 . 2 0 . 3
E(eV)
V a ( V )
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(E,Va) Valutazione del coefficiente di trasmissione T(E,Va)
0 . 4
0 0 . 0 5 0 . 1 0 . 1 5 0 . 2 0 . 2 5 0 . 3 0 . 3 5
0 0 . 0 0 5 0 . 0 1 0 . 0 1 5 0 . 0 2 0 . 0 2 5 0 . 0 3 0 . 0 3 5
T (E,Va)
E ( e V )
V a = 0 V V a = 0 . 2 V
V a = 0 . 1 V V a = 0 . 3 V
K11A-M21 MBE840 Nell’intervallo di energia in cui può avvenire il passaggio dei portatori, il coefficiente di trasmissione delle due barriere non subisce forti variazioni.
La probabilità di tunneling presenta una discontinuità in corrispondenza del minimo della buca, dovuta al fatto che la condizione
E,Va
0
massimizza il coefficiente di riflessione.
Valutazione del coefficiente di trasmissione T(E,Va) Valutazione del coefficiente di trasmissione T(E,Va)
0 . 4
0 . 7
0 . 1 0 . 2 0 . 3 0 . 4 0 . 5 0 . 6
0 0 . 0 5 0 . 1 0 . 1 5 0 . 2 0 . 2 5 0 . 3 0 . 3 5
T (E,Va)
E ( e V )
V a = 0 V V a = 0 . 2 V
V a = 0 . 1 V V a = 0 . 3 V
K11A-M21 MBE840 Per valori di energia superiori si
riscontra un picco di risonanza.
All’aumentare della tensione di polarizzazione la condizione di risonanza viene raggiunta più rapidamente ed il picco di
risonanza diminuisce in ampiezza.
ris a
ris a
V E
T E , V
Caratteristica statica : confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica : confronto con le misure di laboratorio
0 . 8
0 0 . 1 0 . 2 0 . 3 0 . 4 0 . 5 0 . 6 0 . 7
0
2 1 0 4
4 1 0 4
6 1 0 4
8 1 0 4
0 . 0 0 1 0 . 0 0 1 2 0 . 0 0 1 4
V a ( V )
C a r a t t e r i s t i c a m i s u r a t a C a r a t t e r i s t i c a s i m u l a t a
I (Va) (A)
K11A-M21 MBE840 2.5x2.5 m C = 0.52
p
p
V 120 mV I 1,18 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 124 mV I 1,12 mA
Errori commessi:
tensione di picco: 3.3 %
corrente di picco: 5.1 %
Caratteristica statica : confronto con le misure di laboratorio Caratteristica statica : confronto con le misure di laboratorio
0 . 8
0 0 . 1 0 . 2 0 . 3 0 . 4 0 . 5 0 . 6 0 . 7
0
2 1 0 4
4 1 0 4
6 1 0 4
8 1 0 4
0 . 0 0 1 0 . 0 0 1 2 0 . 0 0 1 4
V a ( V )
C a r a t t e r i s t i c a m i s u r a t a C a r a t t e r i s t i c a s i m u l a t a
I (Va) (A)
p
p
V 100 mV I 0,55 mA
Dati misurati
Dati simulati p
p
V 108 mV I 0,53 mA
Errori commessi:
tensione di picco: 8.0 %
corrente di picco: 3.4 %
L’errore commesso è in parte imputabile alla maggiore dispersione delle caratteristiche nel lotto di diodi misurato.
K11A-M21 MBE842 2.5x2.5 m C = 0.52
Conclusioni e sviluppi futuri Conclusioni e sviluppi futuri Risultati ottenuti
Risultati ottenuti
Sviluppi Sviluppi
Il modello è in grado di riprodurre con buona precisione l’andamento della corrente statica dei diodi nell’intervallo di tensioni in cui la componente di tunneling è predominante.
In particolare il modello è in grado di prevedere gli effetti della variazione del drogaggio
p = 16 % Ip 53 %
Verifica del comportamento del modello su strutture D.B.Q.W.
con differenti caratteristiche.
Implementazione, almeno per via semi – empirica, degli effetti di bordo che determinano una corrispondenza non lineare tra la corrente e la sezione del diodo.
La parte di definizione fisico – matematica del modello è stata presentata con il titolo:
L. Barletti, G. Borgioli, M. Camprini, A. Cidronali, G. Frosali “Tunneling current in resonant interband tunneling diodes” al V Congresso Nazionale della Società Italiana di Matematica Applicata e Industriale, SIMAI, Ischia 5-9 Giugno 2000.