Conclusioni
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Conclusioni e sviluppi futuri
Da un punto di vista strettamente termico, i substrati di allumina si sono dimostrati migliori degli IMS per un duplice ordine di ragioni: da un lato a causa del loro minor spessore totale, che nello stesso tempo li rende meccanicamente meno robusti, dall’altro per l’assenza dello strato di isolante elettrico. Le prestazioni degli IMS si avvicinano tanto più a quelle dei substrati di allumina quanto migliori si rivelano i materiali e le tecnologie adottate per la deposizione di questo strato, che costituisce un vero e proprio collo di bottiglia per il flusso di calore. Non saremmo di certo riusciti a trarre queste conclusioni, se non avessimo avuto a disposizione dei metodi di caratterizzazione termica capaci di analizzare le proprietà dei materiali con una buona risoluzione spaziale. Una ulteriore conferma dell’importanza e dell’utilità di questi metodi ci viene offerta dai brillanti risultati conseguiti nell’ambito della failure analysis, e specificamente nell’esatta individuazione delle difettosità nei passi di processo relativi al die attach e alla deposizione dello strato isolante.
Le attuali ricerche in questo settore si stanno muovendo su due fronti, che riguardano l’estensione della potenza analitica del sistema TRAIT e la sua applicazione in ambito industriale. Per quanto concerne il primo, abbiamo visto come sia importante poter estrarre quanti più esponenziali possibile dai transitori, al fine di conseguire una risoluzione spaziale più elevata: per questo è in fase di implementazione una tecnica che permetta di effettuare campionamenti con una cadenza temporale logaritmica, in grado di offrire una precisione più alta nei primi istanti, dove maggiore è la necessità di esaminare con accuratezza il segnale. Sempre per quanto riguarda gli istanti iniziali del transitorio, per ovviare alle grandi difficoltà che si hanno nel riconoscimento di molte funzioni esponenziali con costanti di tempo estremamente piccole e ravvicinate, è allo studio una teoria che consentirà di sfruttare con successo l’approssimazione continua dello spettro, descritta nel capitolo 3, solo dove questa sia pienamente opportuna e fisicamente giustificata.
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Citiamo infine una possibile applicazione industriale del metodo, consistente nella verifica, direttamente in catena di montaggio, del buon esito dei passi di processo critici per le prestazioni termiche dei dispositivi, quali il die attach, tramite stimolazione laser e rilevamento ottico del transitorio di temperatura.
