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Particle  Detectors

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Academic year: 2021

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(1)

Particle  Detectors  

a.a.  2016-­‐2017   Emanuele  Fiandrini  

1

Lecture   16  

03/05/17  

(2)

2

Rivelatori a stato solido

In fisica subnucleare si sono iniziati ad usare come rivelatori di posizione da meta’ degli anni ’80 circa.

Con camere a deriva a gas è possibile misurare posizioni con la

precisione di ~100 µm nel caso di traccia isolata (peggiore nel caso di tracce molto vicine) nel piano perpendicolare ai fili, mentre si hanno mm o peggio lungo la direzione del filo.

Con i rivelatori a stato solido si si possono raggiungere granularità (cioe’ la segmentazione degli anodi e catodi di raccolta di carica) di pochi µm è possibile raggiungere precisioni di pochi µm richieste per la determinazione di vertici secondari e/o parametri d’impatto o per misure precise di impulso.

Rivelatori di Particelle

(3)

3

ALEPH

Rivelatori di Particelle

Gli esperimenti a LEP

(Aleph, Delphi, Opal ed L3) furono i primi a essere

equipaggiati con rivelatori a

microstriscie di silicio.

(4)

4

ALPEH – VDET (the upgrade)

¡ 

2 silicon layers, 40cm long, inner radius 6.3cm, outer radius 11cm

¡ 

300µm Silicon wafers giving thickness of only 0.015X

0

¡ 

S/N rΦ = 28:1; z = 17:1

¡ 

σ

= 12µm; σ

z

= 14µm

Rivelatori di Particelle

(5)

rivelatori di particelle 5

L3

(6)

rivelatori di particelle 6

SMD : silicon µ vertex detector - 1

80 mm 96 tavolette di silicio

70 mm × 40 mm × 300 µm

2 letture :

•  50 µm in rφ;

•   150÷200 µm in z

Il primo rivelatore costruito a Pg, insieme a molti altri colleghi (bilei, santocchia,

bertucci, ambrosi, servoli, pauluzzi, mantovani, alpat,...).

Tutta la tradizione "silicio" di perugia inizia da li'

Potete vederlo esposto nel pianerottolo al II

piano del dipartimento

(7)

rivelatori di particelle 7

SMD : silicon µ –vertex detector - 2

(mm) σ

fit

= 30µm

(GeV

-1

) S M D +

TEC

per la rivelazione dei

vertici secondari, vedi

LHC.

(8)

8

ATLAS

n   A monster !

Rivelatori di Particelle

n  2112 Barrel modules mounted on 4 carbon fibre concentric Barrels, 12 in each row

n  1976 End-cap modules mounted on 9 disks at each end of the

barrel region

(9)

9

What is measured

n   Measure space points of the passage of particles

n  Deduce

¡  Vertex location

¡  Decay lengths

¡  Impact parameters

Rivelatori di Particelle

(10)

10

Signature of Heavy Flavours

Stable particles τ > 10

-6

s cτ

n 2.66km

µ 658m

Very long lived particles τ > 10

-10

s

π, K

±

, K

L0

2.6 x 10

-8

7.8m

K

S0

, E

±

, Δ

0

2.6 x 10

-10

7.9cm Long lived particles τ > 10

-13

s

τ

±

0.3 x 10

-12

91µm

B

d0

, B

s0

, Δ

b

1.2 x 10

-12

350µm Short lived particles

π

0

, η

0

8.4 x 10

-17

0.025µm

ρ,ω 4 x 10

-23

10

-9

µm!!

(11)

11

Decay lengths

n  By measuring the decay length, L, and the momentum, p, or energy E and the mass the lifetime τ of the particle can be determined

n  Need spatial accuracy on both production and decay point

L

Primary vertex Secondary vertex

L = p τ /m = E τ /mc

E.g. B → J/ Ψ K

s0

Rivelatori di Particelle

(12)

12

Rivelatori a stato solido

Parametro d’impatto (a un collider): distanza di min avvicinamento della estrapolazione di una traccia al vertice primario dell'interazione

A titolo di esempio consideriamo una particella neutra a breve vita media ed alta massa, prodotta ad un collider (e.g. un D0, vita media ~ 0.5-1 x 10

-12

e c τ = 315 µ m) che decade in 2 particelle cariche (es. un K- e un π+), che per semplicit à considereremo di massa trascurabile rispetto alla massa del D (m=1.85 GeV). Essendo la particella in questione neutra l’unico modo di rivelarla è tramite il parametro d’impatto, ovvero lo spostamento del vertice secondario (di decadimento ) dal vertice primario (di produzione).

p p D

b

a θ

D è la particella che decade in a che ha un parametro d’impatto b + un’ altra (x) non indicata.

D à a + x

Rivelatori di Particelle

(13)

13

Rivelatori a stato solido

Il parametro d’impatto b è proporzionale al percorso di D e all’angolo θ . Ma:

Se il decadimento è a 2 corpi D à a + x e posso trascurare le masse di a e x (rispetto alla massa del D) è

è il parametro d’impatto è indipendente dall’impulso b~(cτ)

D

.

db/b = d τ/τ à se voglio un errore del 10% su τ , devo misurare b al 10%

Se la particella ha una vita media di ~10

-12

s è devo determinare distanze dell’ordine di ~300 µm à mi servono risoluzioni sul punto di max avvicinamento al vertice primario di ∼ 30 um è

stato solido va bene

( )

(

D

)

a D Ta a

Ta

D D

p c b p p

p

D b

c D

τ γ ϑ

ϑ τ γ

⇒ ~

=

=

D D D a D a D T

p M p p p M

ϑ ~ ~ 1 γ

~ 2

~ 2

ponendo β=1 e p/M=βγ D

b

a θ

(14)

Rivelatori di Particelle 14

The signed impact parameter is defined by reference to the direction of the reconstructed particle or the jet to which the track is associated.

The signed impact parameter of a track is defined as positive if the angle between the jet direction and the line joining the primary vertex to the point of DCA <90 and it is defined as negative otherwise.

The sign allows to statistically disentangle detector

resolution effects and effects from the decay lifetime of the heavy hadron.

Tracks from the decays of long lived particles will have positive impact parameters, if resolution effects are

neglected. Tracks produced at the primary vertex result in a symmetric distribution around 0, i.e.negative impact

parameters predominantly result from detector resolution effects.

The impact parameter of a

track is defined as the

transverse distance of

closest approach (DCA) of

the track to the primary

vertex point with a sign.

(15)

Semiconductor Detectors

15 Rivelatori di Particelle

There is not charge multplication, only charges due to

ionization are collected

(16)

Semiconductor Detectors

16 Rivelatori di Particelle

The same considerations made for gas

ionization chambers apply for charge

collection in semiconductors detectors

(17)

Choice of material

17 Rivelatori di Particelle

Q

dep

= e(dE/dx)(X/w) à y= x/X0

= ey [(dE/dy)/w]

Ideal material for "high" Q

dep

and low σ

Q

•  high specific E loss dE/dy

•  low effective ionisation energy w

•  Thickness y compromise for high Q collected and low multiple scattering (typically < 1% X0)

(18)

18 Rivelatori di Particelle

Rivelatori a stato solido

(19)

19

Rivelatori a stato solido

In un metallo banda di conduzione e di valenza sono sovrapposte. è

molti elettroni liberi e alta conducibilità.

(n~10

28

elettroni/m

3

)

In un semiconduttore la banda di valenza e quella di conduzione non sono sovrapposte.

La banda di valenza è quasi piena e quella di conduzione quasi vuota. La GAP fra le due bande è ~1.1 eV nel silicio è

La conducibilità dipende dalla temperatura, cresce al crescere della temperatura.

In un isolante banda di conduzione e di valenza sono separate da una gap grossa ( ~8 eV in SiO

2

e ~5 eV nel diamante ) è

Bassa conducibilità (n ~ 10

7

elettroni/m

3

).

Rivelatori di Particelle

W W

W Conduction

Band

Valence Band

Metal Semiconductor Insulator

Il silicio ha in totale 14 elettroni di cui 4 di valenza è il nucleo ionico ha carica +4.

Siccome gli elettroni di valenza servono ad unire gli atomi adiacenti, sono

strettamente legati al nucleo a 0 K è bassa conducibilità.

(20)

Conductivity

Rivelatori di Particelle 20

In semiconductors there are 2 charge carrier types: electrons and holes.

Holes are e- vacancies which behave as positive charges.

Holes "play" the same role of ions in gas but they are much faster à contribute to signal (nb: much faster than ions but slower than e-)

For particles with (E-E

F

)>>kT, Maxwell Boltzmann statistics apply

(21)

21

Rivelatori a stato solido

Rivelatori di Particelle

Compare with gas: w

gas

∼ 30 eV

e

Small w

i

means large number of pairs:

no amplification required for the signal

(22)

22

Rivelatori a stato solido

Un breve riassunto sui semiconduttori.

Ø  In un semiconduttore intrinseco (e.g. il Silicio, IV gruppo) ci sono 4 elettroni nella banda di valenza .

Ø  A temperatura ambiente, la distribuzione dell’energia termica (Maxwell-

Boltzman) fa si che una frazione degli elettroni sia in banda di conduzione,cioe’

liberi di muoversi nel volume del solido.

Ø  Il legame vacante (cioe’ l’assenza di un elettrone) si comporta come una carica positiva, detta lacuna, che si “sposta” quando viene riempita da un elettrone Ø  Quindi in un semiconduttore esistono due portatori di carica, analoghi alle

coppie e- ione dei gas.

Ø  La concentrazione intrinseca all’equilibrio è n

i

=p=n ed anche np=n

2i

=N

c

N

v

e

-Eg/kT

con N

c

ed N

v

densità dei portatori di carica nella banda di conduzione e di

valenza, rispettivamente. L’ultima relazione è valida per qualsiasi materiale semiconduttore anche drogato.

Ø  Nel silicio puro E

g

=E

c

-E

v

=1.12 eV ed n

i

=1.45x10

10

cm

-3

a temperatura ambiente.

Rivelatori di Particelle

(23)

Semiconductor Detectors

23 Rivelatori di Particelle

Diamond

(24)

Semiconductors: Silicon

24

Rivelatori di Particelle

(25)

25

Rivelatori a stato solido

Proprietà del silicio

G  Larghezza della gap E

g

=1.12 eVèEnergia per creare una coppia elettrone-lacuna = 3.6 eV, ( ~ 30 eV per gli apparati a gas)

G  Alta densità specifica (2.33 g/cm

3

) è dE/(lunghezza di traccia) per M.I.P. : 390 eV/µm ≈ 108 e-h/µm (in media), circa 80 e-h/µm come valore piu’ probabile

G  Alta mobilità : µ

n

=1450 cm

2

/Vs, µ

p

= 450 cm

2

/Vs è rapida raccolta della carica rilasciata (<10 ns).

G  Produzione dell’apparato tramite tecniche micro-elettroniche è

piccole dimensioni

G  Rigidità del silicio permette strutture sottili. Spessori tipici 300 µm è

≈ 3.2 ⋅10

4

e-h (in media)

Rivelatori di Particelle

(26)

Semiconductors General

26

Rivelatori di Particelle

(27)

Charge transport

27 Rivelatori di Particelle

Charge transport is different for electrons and holes: electrons scatter and drift in the crystal lattice as single particles.

Holes move via successive replacements by electrons à their transport properties are determined by the collective motion of electrons.

Motion of holes is slower than for electrons.

Electrons and holes have different mobilities

and diffusion coefficients

(28)

Drift velocity in Silicon

28 Rivelatori di Particelle

τ

c

= 10

-12

s

(29)

29

Rivelatori a stato solido

Resistività.

La resistività ρ ( inverso della conducibilità) del materiale è connessa alla densità dei portatori di carica ed alla mobilità:

dove q=1.6x10

-19

C è la carica dell’elettrone.

Per il silicio intrinseco ρ=235 KΩ/cm.

Per il silicio drogato è minore in quanto ci sono più portatori di carica.

Parametro operativo importante di un rivelatore perche’ determina correnti, tensione di lavoro,…

( n p )

q µ

n

µ

p

ρ = 1 +

Rivelatori di Particelle

Deriva immediatamente dalla legge di Ohm:

j = E/ρ

e dalla definizione di densita' di corrente

j = env

D

= enµE

(30)

30

Rivelatori a stato solido

0

-8 -6 -4 -2 0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 Log

10

Volume Resistivity ( Ω cm)

Conductor

Semi

Conductor

Insulator

Ge 9 10-2

Polyvenylchloride 109

Polytetrafluoroethylene 1020

Cu 1.6 10-6

Water

Rivelatori di Particelle

Si

Si

(31)

Number of pairs in Silicon

31 Rivelatori di Particelle

24000 most probable

(32)

Signal in Silicon

32

Rivelatori di Particelle

(33)

33

Rivelatori a stato solido

Drogaggio dei semiconduttori

TIPO n

TIPO p

Aggiungendo al silicio impurità del V gruppo (Pentavalenti: antimonio, fosforo, arsenico) con 5 elettroni di valenza (donori) facciamo diventare il silicio di tipo n.

Gli elettroni sono portatori di maggioranza

Aggiungendo impurità del III gruppo

(Trivalenti: boro, gallio, indio) con tre elettroni di valenza (accettori), il silicio diventa di tipo p.

Le lacune sono portatori di maggioranza

Rivelatori di Particelle

Inserendo nel reticolo cristallino atomi opportuni e’ possibile

“modulare” le proprieta’ elettriche dei semiconduttori

(34)

Silicon doping

34

Rivelatori di Particelle

(35)

Doping and resistivity

E

f

E

V B C B e

  Doping: n-type Silicon - add elements from V

th

group ⇒ donors (P, As,..)

- electrons are majority carriers

E

f

E

V B C B

h

  Doping: p-type Silicon - add elements from III

rd

group ⇒ acceptors (B,..)

- holes are the majority carriers

Si Si Si

Si Si

Si Si

P Si

e.g. Phosphorus

( n p )

q µ

n

µ

p

ρ = +

0

1

  Resistivity

- carrier concentrations n, p - carrier mobility µ

n

, µ

p

35 Rivelatori di Particelle

•  Energy levels very close conduction bands.

•  Energy difference < ∼ thermal energy (3/2)kT = 40 meV

•  At room T, donors and acceptor levels ionized à

charge carriers in conduction band

•  Electrical properties determined mainly by doping

"n-type" "p-type"

(36)

36

Rivelatori a stato solido

In un semiconduttore in cui le impurità sono uniformemente distribuite, la densità di

carica netta δq in un elemento di volume δV è =0. Indicando con N

d

la concentrazione di donori e con N

a

quella di accettori si ha:

( + ) = 0

= q p n N

d

N

a

V q δ

δ

( ) ⎟

⎠

⎜ ⎞

⎝

⎛ − + − +

=

2

4

2

2 1

i a

d a

d

N N N n

N n

( ) ⎟

⎠

⎜ ⎞

⎝

⎛ − + − +

=

2

4

2

2 1

i d

a d

a

N N N n

N p

a p a

d a

d n d

a d

N N q

N N

p

N N q

N N

n

ρ µ ρ µ

1 1

=

=

=

=

Mettendo a sistema con pn=n

i2

si ha

Rivelatori di Particelle

detector grade

electronics grade doping ≈ 10

12

cm

-3

≈ 10

17

cm

-3

resistivity ρ ≈ 5 kΩ·cm ≈1 Ω·cm

La resistivita' e' un parametro importante del silicio. Da essa dipendono parametri operativi come la tensione di lavoro, efficienza di raccolta di carica, rumore

dell'apparato Tipo n: N

d

>> N

a

Tipicamente N

a

– N

d

>> n

i2

Tipo p: N

a

>> N

d

Doping:

(37)

37

Rivelatori a stato solido

La giunzione p-n.

Abbiamo visto che occorre ridurre la carica libera nel volume attivo per ottenere un rapporto fra segnale e rumore favorevole (24000 coppie di segnale vs 1.5x10

10

di coppie termiche) occorre svuotare di carica

libera il volume attivoà diodo in polarizzazione inversa

Date 2 regioni contigue di silicio una di tipo p e l’altra di tipo n.

La giunzione e' costituita dall'interfaccia tra la regione p ed n, in cui la densita' di carica cambia bruscamente

Valori tipici di drogaggio sono:

10

12

/cm

3

(n) e 10

15

/cm

3

(p)

(molto minori che nei circuiti integrati e diodi o transistor, nei quali la concentrazione è ~ 10

17(18)

/cm

3

)

Rivelatori di Particelle

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