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Questa struttura periodica si comporta dal punto di vista ottico come un reticolo di diffrazione in riflessione.

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Academic year: 2021

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(1)

Determinazione della lunghezza totale della traccia di un Compact Disk

La struttura base di un CD è costituita da una spirale continua di passo costante che ne costituisce la traccia.

Le informazioni sono registrate lungo la traccia mediante delle strutture di lunghezza variabile per indicare 0 e 1 (vedere le immagini).

La dimensione del passo della spirale è dell’ordine di grandezza della lunghezza d’onda della luce visibile.

Questa struttura periodica si comporta dal punto di vista ottico come un reticolo di diffrazione in riflessione.

Pertanto inviando luce visibile monocromatica (unica lunghezza d’onda λ), ad esempio il fascio di un puntatore laser, sulla superficie riflettente si ottiene uno spettro di diffrazione. Per la misura il raggio laser si fa incidere perpendicolarmente alla superficie riflettente verso il bordo esterno del CD. Per le piccole dimensioni dello spot, nell’area colpita le tracce sono sensibilmente rettilinee e parallele ed il sistema si comporta come un reticolo di diffrazione piano che lavora in riflessione. La presenza di informazioni registrate non modifica lo spettro di diffrazione. Conoscendo il raggio R dello schermo e misurando la lunghezza l dell’arco tra lo spot di ordine 0 e uno di ordine superiore, si ottiene l’angolo di deviazione:

θ(rad)=l/R.

Dalla legge della diffrazione: d•sen(θ)=n•λ, con d=passo del reticolo, n=intero=0,±1,±2.. ±n max . Conoscendo la lunghezza d’onda λ si ottiene il passo del reticolo d= n•λ/sen(θ).

La lunghezza L della traccia si ottiene confrontando l’area della corona circolare incisa e l’area totale della traccia: π(b 2 -a 2 )=d • L, dove a e b sono il raggio interno ed esterno della corona incisa.

Se è noto il passo del reticolo dalla legge della diffrazione è possibile misurare la lunghezza d’onda della radiazione elettromagnetica.

Le immagini riportate sono state ottenute con il microscopio a forza atomica del Dipartimento di Fisica.

(2)

2

laser reticolo θ 2 θ 1

θ 2 θ 1

laser

reticolo θ 2 θ 1

θ 2 θ 1

R

l

Diffrazione da reticolo

Spot di diffrazione

Geometria in trasmissione Geometria in riflessione R

d•sen(θ)=n•λ

(3)

Compact Disk (CD)

CD stampato all’origine

Immagine 3D Immagine 2D

Profili di linea (altezza in

a b

0 2 4 6 8

-20 0 20 40 60 80 100 120 140 160 180

Z(nm)

X(μm) 1.55±0.05 μm

a

0 2 4 6 8

-20 0 20 40 60 80 100 120 140 160 180 200

1.55±0.05 μm

Z(nm)

X(μm)

b

0 2 4 6 8

-10 0 10 20 30 40 50 60

70 1.55±0.05 μm

Z(nm)

X (μm)

2.0µm

(4)

4

Reticolo di diffrazione

Immagine 3D Immagine 2D Profilo di linea (altezza in

funzione della posizione) lungo

la linea dell’immagine 2D

(5)

Microscopio a Forza Atomica (AFM)

diodo laser specchio

Scanner

piezoelettrico cantilever

punta

sensore ottico

Una punta molto piccola, con raggio di

curvatura di pochi nm, è montata su una leva

(cantilever). La punta si avvicina a distanza di

pochi nm dal campione. A questa distanza tra il

campione e la punta si esercitano forze

atomiche, la cui intensità dipende fortemente

dalla distanza punta-campione. La punta si

muove sul campione mediante dei piezoelettrici

(ceramiche che modificano la loro lunghezza

anche di pochi centesimi di nm quando è

applicata una tensione). Ogni rugosità, anche di

pochi decimi di nm, facendo variare la distanza

tra campione e punta, fa variare la forza tra essi

e pertanto piega la leva. Un fascio laser è

inviato sulla punta e da questa è riflesso su un

sensore ottico. Ogni minima flessione del

cantilever modifica la posizione del fascio

riflesso sul sensore. In questo modo si ottiene

una immagine topografica della superficie.

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